慢正电子束研究薄膜、界面和近表面微观结构  

FILMS, INTERFACES AND NEAR SURFACE STUDIES USING VARIABLE ENERGY POSITRON BEAM

作　　者：翁惠民[1] 周先意[1] 叶邦角[1] 杜江峰[1] 韩荣典[1] 

机构地区：[1]中国科学技术大学近代物理系,合肥230026

出　　处：《物理》2000年第5期308-312,共5页Physics

摘　　要：慢正电子束技术是近十几年来发展起来的探测材料近表面微结构的新手段 .文章介绍了其在薄膜。The use of a variable energy positron beam is a new technique for probing the near surface structure of solids. The basic method and some results for certain films, interfaces and near surfaces are described.

关 键 词：慢正电子束 界面 薄膜 近表面微观结构 

分 类 号：O484[理学—固体物理]