面向单粒子效应的航天嵌入式软件软防护技术研究  

作　　者：郭向英[1] 赵雷[1] 沈沛[1] 

机构地区：[1]北京控制工程研究所,北京100190

出　　处：《质量与可靠性》2013年第1期54-58,共5页Quality and Reliability

摘　　要：单粒子效应是影响航天器可靠性和在轨寿命的重要因素。单粒子效应引发的可恢复性错误称为软错误,会导致软件运行出错。本文针对单粒子效应引发的软错误,对航天嵌入式软件中采用的软防护技术,按照控制流防护和数据流防护进行了分类分析和总结。

关 键 词：单粒子效应 软错误 软防护技术 数据流 控制流 

分 类 号：V443[航空宇航科学与技术—飞行器设计]