防串扰的3D芯片TSV自动布局  被引量:4

Crosstalk-Free 3D IC TSV Automatic Placement

在线阅读下载全文

作  者:侯立刚[1] 李春桥[1] 白澍[1] 汪金辉[1] 刁麓弘[2] 刘伟平 

机构地区:[1]北京工业大学集成电路与系统研究室,北京100124 [2]北京工业大学应用数理学院,北京100124 [3]北京华大九天软件有限公司,北京100102

出  处:《计算机辅助设计与图形学学报》2013年第4期578-583,共6页Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics

基  金:国家自然科学基金(60976028);北京市自然科学基金(4123092)

摘  要:为了防止3D芯片中的硅过孔(TSV)串扰,提出一种TSV自动排布算法.该算法结合TSV串扰的机理,利用Comsol证明了通过接地TSV解决屏蔽方法的有效性,完成了对接地TSV屏蔽效果的量化;提出电源?接地TSV和信号TSV自动排布算法,其中考虑了不同类型TSV比例和工艺最小间距对3D芯片性能的影响.最后利用IBM基准电路进行仿真,结果表明,文中算法可以防串扰的目的对电路中TSV进行自动布局.A crosstalk-free 3D IC through silicon via (TSV) automatic placement algorithm is presented in this paper. The principle of TSV crosstalk and the effectiveness of grounded TSV shielding was proved by using Comsol. Then effectiveness of grounded TSV was quantified with a deduced formula. Power/Ground TSV and signal TSV placement algorithm has been realized, considering the impact of TSV percentage and pinch constraint on 3D IC performance. Finally, the experimental results on IBM benchmark circuits validated and verified the proposed algorithm.

关 键 词:3D芯片 串扰 硅过孔 

分 类 号:TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象