可测性设计技术的发展  

作　　者：王坤[1] 

机构地区：[1]武汉理工大学

出　　处：《科技致富向导》2013年第23期90-90,共1页Guide of Sci-tech Magazine

摘　　要：概述了集成电路可测性设计的必要性;综述了超大规模集成电路三种主要的可测试性设计技术;分别介绍了三种技术的工作原理;最后总结了可测行设计面临的难题。

关 键 词：可测性设计 扫描设计 边界扫描 内建自测试 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]