检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:夏俊生[1]
机构地区:[1]北方通用电子集团有限公司微电子部,蚌埠233042
出 处:《集成电路通讯》2013年第4期37-41,共5页
摘 要:为保证工艺过程稳定受控、有效提升工序能力指数(Cpk)和产品内在可靠性,开展了混合集成电路生产线SPC技术应用研究。混合集成电路生产线应用SPC技术所采用的技术流程和实施sPc的主要方法,包括关键工艺参数确定、控制图选用、关键参数采集方法、测量设备/仪器的选用和评价、工艺过程受控状态的判断规则、专用SPC软件开发、控制图使用和分析等。通过实施SPC技术,混合集成电路生产线各主要工序总体上均处于统计受控状态,工艺稳定性得到明显加强,在采取相应优化改进措施的基础上,工序能力指数(Cpk)也得到有效提高。
关 键 词:SPC控制图 工序能力指数(Cpk) 参数采集 测量设备 仪器评价
分 类 号:TN45[电子电信—微电子学与固体电子学]
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