用可测性设计的方法设计PLA  

Design the PLAs Using DFT

作　　者：朱恒静[1] 张卓[1] 

机构地区：[1]航天511所可靠性中心,北京100096

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》2001年第1期10-13,共4页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

摘　　要：全面、有效地测试PLA ,是保证PLA类产品可靠性的重要手段。在设计的同时就考虑其测试问题 ,是解决PLA测试问题行之有效的方法。介绍了怎样用可测性设计的方法解决PLA的测试问题 ,给出了几种具体的实施方案 。Testing PLA available is the important method to ensure the reliability of PLAs The DFT methodology is very useful to solve the test problems of PLAs.In this paper,we primarily discussed Built-In Self-Testing (BIST) designs of PLAs.

关 键 词：可测性设计 可编程逻辑阵列 数字电路 设计 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]