朱恒静

作品数：8被引量：2H指数：1
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发文主题：IDDQ测试CPU控制器接口电路RAM更多>>
发文领域：自动化与计算机技术电气工程电子电信更多>>
发文期刊：《微处理机》《国外电子测量技术》《电子产品可靠性与环境试验》更多>>
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IEEE1149.1测试存取口与器件可测性同步的实现
《电子产品可靠性与环境试验》2002年第1期27-29,共3页朱恒静 
提出了加强测试存取口（ＴＡＰ）功能的一种方法，使之可以随两个时钟工作，一个用于控制与ＩＥＥＥ１１４９．１标准相兼容的操作，另一个控制器件所固有的可测试特性．这个方法给设计和利用器件的可测性特性带来了许多优越性．
关键词：IEEE1149.1 测试 存取口 可测性 
用可测性设计的方法设计PLA
《电子产品可靠性与环境试验》2001年第1期10-13,共4页朱恒静 张卓 
全面、有效地测试PLA ,是保证PLA类产品可靠性的重要手段。在设计的同时就考虑其测试问题 ,是解决PLA测试问题行之有效的方法。介绍了怎样用可测性设计的方法解决PLA的测试问题 ,给出了几种具体的实施方案 。
关键词：可测性设计 可编程逻辑阵列 数字电路 设计 
利用IDDQ技术测试CMOS器件
《国外电子测量技术》2001年第z1期36-37,43,共3页朱恒静 
早在1960年,IC制造者利用I_(DDQ)技术测试器件是否存在功耗过大的问题。现在,I_(DDQ)成为CMOS电路故障检测的重要项目,已广泛用于测试功能测试所不能发现的制造过程所产生的故障。I_(DDQ)和功能测试相结合,可大大改善故障覆盖率,提高测...
关键词：IDDQ测试 缺陷 故障 功能测试 
一种降低RAM测试复杂性的新方法被引量：2
《国外电子测量技术》2000年第5期16-20,25,共6页朱恒静 
本文给出了一种 I_(DDQ)测试技术和传统的走步测试相结合的 RAM测试方法。采用 I_(DDQ)测试技术可以减少 RAM测试的成本,但由于 RAM结构和使用上的限制,只采用 I_(DDQ)测试其故障检测能力不够高。在常规 RAM测试的基础上增加 I_(DDQ)测...
关键词：故障模型 IDDQ测试 测试复杂性 RAM 
L80C86 16位微处理器
《微处理机》1995年第1期23-30,共8页朱秉晨 宁书林 刘鉴伟 李冬菊 朱恒静 姚履忠 孙武山 王士秀 
本文报道了1994年研制成功的我国L80C8616位微处理器，论述了标志我国μPLSI新水平的该电路结构特征、系统逻辑、电路设计、芯片形成及测验技术等。
关键词：CMOS 微处理器 接口单元 执行单元 CPU L80C86 
L82C59A优先中断控制器的研制
《微处理机》1994年第3期7-11,共5页张东庄 李范益 朱恒静 
本文简明介绍了L82C59的电路功能和可编程设定多种工作方式，文章还说明了设计上采取的一系列措施和制造工艺中控制要点。该电路的研制成功为提高CPU的工作效率和外设利用率创造了条件。
关键词：接口电路 中继控制器 研制 CPU 
L82C51串行通讯接口研制
《微处理机》1993年第4期1-7,共7页喻德顺 苏秀娣 朱恒静 
本文介绍了L82C51芯片电路的基本功能,关键制造工艺,测试方法。分析了该芯片版图设计特点及V_T控制方法。
关键词：芯片 串行通讯 接口设备 
煤气管网压力控制程序设计
《微处理机》1990年第3期5-8,共4页朱恒静 
本文讨论了煤气管网压力控制系统的工作原理和系统组成,着重介绍了控制原理的软件实现方法和程序设计思想。
关键词：控制程序设计 压力控制系统 煤气管网 程序设计思想 软件实现方法 采样周期 不灵敏区 积分系数 常规仪表 设定值 
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