检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国科学院沈阳自动化研究所,沈阳110016 [2]中国科学院大学,北京100049 [3]河南双汇投资发展股份有限公司,漯河462000
出 处:《制造业自动化》2014年第9期38-41,共4页Manufacturing Automation
基 金:国家科技支撑计划(2012BAF12B08)
摘 要:食品安全问题越来越成为社会关注的焦点,而包装薄膜破损是威胁密封食品安全的主要问题之一。针对密封薄膜上难以检测的微小破损,采用高频高压介质阻挡放电的方法,采集食品的放电信号,经小波包去噪后,分别利用EmD和EEmD方法提取在包装薄膜完好和针孔存在条件下的特征参数。通过比较,EEmD比EmD方法的区别特征更加明显,确立了EEmD方法在放电信号特征提取中的优势,同时解决了密封包装食品微小破损难以辨识和检测的问题,为密封包装食品的在线检测提供了一种新的思路。
关 键 词:小波包 信号去噪 总体平均经验模态分解 特征提取
分 类 号:TP202[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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