一款数字信号处理器的失效分析研究  

A Chip of Digital Signal Processor's Failure Analysis Research

作　　者：王月玲[1] 黄旭东[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035

出　　处：《电子与封装》2014年第5期42-44,48,共4页Electronics & Packaging

摘　　要：集成电路在实际应用中,经常会出现工作异常甚至失效的情况。当电路发生失效时,需要采用各种手段尽快定位问题所在,在本地复现相关现象,明确问题原因,进而提出针对性的解决方案。介绍一款数字信号处理器电路的失效分析过程。包括问题的出现,现场确认,失效现象复现,借助Latch-up、EMMI设备分析问题,提出改版方案。The paper describes a chip of digital signal processor’s failure analysis, included failure appearance, question’s conifrmation, failure’s recurrence, testing analysis and question’s resoluteon. The lfow of the digital signal processor’s failure analysis can be use for reference for IC design engineer.

关 键 词：数字信号处理器 失效分析 闩锁 EMMI 

分 类 号：TN306[电子电信—物理电子学]