检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:周虎明[1]
机构地区:[1]江苏无锡信息产业部电子第五十八研究所,江苏无锡214035
出 处:《电子工业专用设备》2001年第1期27-33,共7页Equipment for Electronic Products Manufacturing
摘 要:线宽控制是光刻质量的关键。以 0 8~ 1 0 μmIC电路生产为依据 ,讨论光刻机特性影响成像线宽的因素以及使用中的最佳调整。In the optical lithography printing system, the image line width control is the key issues of the quality for photolithography. It will be discussed how the performance of the stepper does influence the image line width and how the stepper will be optimal adjusted during the operation. All discussion in the article is concemed only with the fabrication of 0.8~1.0μm IC.
分 类 号:TN305.7[电子电信—物理电子学]
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