MCM—D自动光学检测系统计算机软件的研究  

作　　者：何晓峰[1] 王孟先[1] 等 

机构地区：[1]信息产业部43所

出　　处：《印制电路与贴装》2001年第6期59-66,共8页

摘　　要：本文介绍了MCM－D自动光学检测系统研制过程中计算机软件的研究。MCM－D基板线条精细，布线宽度高，介质层采用透明介质，上下层图形均可见，给自动检测带来很大困难。软件着重研究了顶层图形分离、故障提取和识别技术以及对精密移动系统的控制。

关 键 词：自动光学检测系统 MCM-D 表面贴装 计算机软件 技术指标 

分 类 号：TN41[电子电信—微电子学与固体电子学] TP31[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]