提高功率管稳态工作寿命试验可信度的技术措施  

A method on improved credibility of succession operation life test of power bipolar transistor

作　　者：曹红 贾颖 张德骏[3] 苗庆海[3] 张兴华[3] 

机构地区：[1]北京东方半导体器件厂,北京100016 [2]中国航空机载设备北京中兴高技术公司,北京100086 [3]山东大学,山东济南250100

出　　处：《半导体技术》2001年第5期57-60,共4页Semiconductor Technology

基　　金：国家自然科学基金资助项目!(69976017)

摘　　要：提出了一种提高功率晶体管稳态工作寿命试验可信度的技术措施，利用这一技术措施，可以在试验过程中实时测量并严格控制晶体管的结温达到最高允许结温，从而提高了试验的可信度。A method on improved credibility of succession operation life test of power bipolar transistor is introduced in this paper.

关 键 词：功率晶体管 工作寿命试验 可信度 

分 类 号：TN323.4[电子电信—物理电子学]