塞曼效应校正石墨炉原子吸收光谱法测定食品中痕量级的铝  

作　　者：宫明岗 张萍 

机构地区：[1]山东进出口商品检验局五处,青岛市河南路5号266001

出　　处：《光谱实验室》1991年第6期8-11,共4页Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory

摘　　要：本文建立了一种测定多种食品中痕量铝的石墨炉原子吸收光谱法:采用塞曼背景校正和L′vov平台技术;用采Mg(NO_3)_2基体改进剂;以校准曲线法定量;实验中严格控制和防止铝的污染。本方法的灵敏度高,特征质量为8.1皮克/0.0044吸光度;精密度与准确度好,在194ppb Al含量时的相对标准偏差为3.71%,标准偏差为7.2ppb;加标总平均回收率为98%,线性范围为0-400ppb Al。本方法可同时完成食品中多元素联测。

关 键 词：食品 痕量分析 铝 石墨炉原子吸收光谱法 塞曼效应 背景校正 

分 类 号：TS207.3[轻工技术与工程—食品科学]