直接数字式频率合成器辐射效应敏感性分析  

The Sensitivity Analysis of the Irradiation Effect of DDS

作　　者：卢向军[1] 王晓晗[1] 罗宏伟[1] 王小强[1] 费武雄[1] 孙宇[1] 吕宏峰[1] 刘焱[1] 

机构地区：[1]工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》2015年第2期48-51,共4页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

摘　　要：从直接数字式频率合成器(DDS)的结构出发,对DDS器件的时钟产生单元、相位累加与相位幅度转换器和数模转换器进行了总剂量效应、单粒子效应的敏感性分析。分析认为:辐照前后DDS输出的无杂散动态范围,以及关断功耗是总剂量相对较为敏感的参数;单粒子效应对DDS输出波形的影响为频率改变、相位改变和幅度改变,以及造成输出信号出现毛刺现象,进而影响器件在系统中的功能。From the structure of DDS （Direct Digital Synthesizer）, this article analyzes the total dose effect sensitivity and single event effect sensitivity of phase locked loop, phase accumulation and phase amplitude converter, and digital to analog converter. According to the analysis results, the spurious-free dynamic rangeand turning off power are sensitive parameter for the total dose effect. The influence of single event effect to the output waveform of DDS is frequency changing, phase changing, amplitude changing, as well as output signal hurring, as a result the function of the devices in the system will he influenced.

关 键 词：直接数字式频率合成器 总剂量效应 单粒子效应 敏感性分析 

分 类 号：TN741[电子电信—电路与系统]