AOI测试机常见假点调试及个案分析  

AOI testing common false defect method and individual cases analyse

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作  者:王涛[1] 

机构地区:[1]天津普林电路股份有限公司,天津300250

出  处:《印制电路信息》2015年第1期59-60,共2页Printed Circuit Information

摘  要:AOI全称为自动光学检查机,AOI是基于光学原理对电路板生产过程中遇到的常见缺陷进行检测的设备。本文以Camtek测试机为例,叙述一些常见的假缺陷(假点)问题,及本人采取的调试措施。

关 键 词:AOI 光学原理 生产过程 测试机 灰阶 相对概率 CMTS 孔环 金属化孔 不一一 

分 类 号:TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

参考文献:

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