一种变游程编码的X位填充压缩方法  

A Varible-run-length Coding Compression Method of X-filling

作　　者：颜学龙[1] 熊杰超 

机构地区：[1]桂林电子科技大学电子工程与自动化学院,广西桂林541004

出　　处：《微电子学与计算机》2015年第10期134-136,142,共4页Microelectronics & Computer

摘　　要：解决数据容量大的问题是当前SOC测试中的一个主要挑战.对此提出了一种基于无关位填充的变游程编码测试数据压缩方案,该方案利用变长到变长的编码方式对任意长度游程进行编码.理论分析和实验结果表明:该填充方法在不增加测试功耗的同时,能取得较高的压缩率,同时还提出了一种基于有限状态机的解码结构.Solving the problem of large data capacity is a major challenge in SOC test. In this paper, a kind of filling way is presented, which based on don ＂t-care-bit of varible-run-length coding test data compression scheme. Thescheme used variable-to-variable run-length coding way to compress the data. Theoretical analysis and experimental results show that the X-filling method can obtain high compression rate without any increase in test power. Adecompressiom structure based on FSM is proposed at the same time.

关 键 词：X位填充 测试数据压缩 测试功耗 

分 类 号：TP31[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]