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机构地区:[1]中南民族大学数学与统计学学院,武汉430074 [2]华中师范大学数学与统计学学院,武汉430079
出 处:《应用数学学报》2015年第5期944-955,共12页Acta Mathematicae Applicatae Sinica
基 金:国家自然科学基金(11271147;11401596;11301546)资助项目
摘 要:离散偏差D(d;γ)是由Hickernell和Liu提出的并用来评价混水平设计的均匀性的度量.本文探讨了以离散偏差D(d;γ)为度量的均匀性准则与广义最小低阶混杂、正交性准则之间的关系,由此来进一步说明采用离散偏差度量均匀性的合理性.同时,本文利用Kronecker积的性质得到了混水平设计的离散偏差值D(d;γ)的一个下界,并通过一些实例验证了这个下界是可以达到的.The discrete discrepancy D(d;γ) proposed by Hickernell and Liu has been used to measure the uniformity of mixed-level fractional factorial designs.In this paper,we derive links among criteria of uniformity measured by discrete discrepancy D(d;γ),generalized minimum aberration and orthogonality,which further shows the statistical justification of discrete discrepancy D(d;γ).We also obtain a lower bound for the discrete discrepancy value of mixed-level fractional factorial design by application of Kronecker calculus for factorial arrangements,and some examples illustrate that this lower bound is tight.
关 键 词:离散偏差 广义最小低阶混杂 均匀性 正交性 下界
分 类 号:O212.6[理学—概率论与数理统计]
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