采用阻隔逻辑的低功耗扫描测试方法研究  

作　　者：许文武[1] 

机构地区：[1]长春理工大学理学院

出　　处：《信息系统工程》2016年第2期126-126,128,共2页

摘　　要：电路测试中扫描测试是最常用的一种技术,但扫描测试过程中会存在功耗过高的问题,本课题针对这一问题,提出了一种在扫描测试结构中插入阻隔逻辑(传输门)的方法来降低扫描测试中的动态功耗。在扫描链与组合逻辑间加入一个传输门,传输门将扫描链和电路部分隔离开,避免了由于时钟翻转对电路的影响,可以大大降低功耗。

关 键 词：扫描链 测试功耗 阻隔逻辑 

分 类 号：TN707[电子电信—电路与系统]