一种嵌入式NOR Flash控制器IP的设计  

Design of an Embedded NOR Flash Controller IP

作　　者：解同同 李天阳[2] 

机构地区：[1]江南大学物联网工程学院,江苏无锡214122 [2]中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035

出　　处：《电子与封装》2016年第7期18-21,43,共5页Electronics & Packaging

摘　　要：当前,嵌入式Flash广泛应用于嵌入式系统领域,便于系统进行软件在线更新和系统维护。嵌入式NOR Flash可以"嵌入"在芯片中作为高速缓存,对于提升芯片整体性能作用明显。传统的嵌入式NOR Flash不具备测试接口,在芯片出现工作异常时不便于对整个芯片进行故障诊断。设计并实现了一种具有片上可测试功能的嵌入式NOR Flash控制器IP。控制器主要分为控制模块与测试模块两个部分,分别对两个模块进行分析设计。经过仿真验证,控制器可以实现对NOR Flash的正常操作与片外测试功能,达到了设计目标。At present, embedded Flash is widely used in embedded systems to facilitate system maintenance and online update. NOR Flash embedded in chips serves as a cache to enhance the overall performance of the chips. Lack of test interface in traditional embedded NOR Flashes may cause inconvenience in diagnosis upon failure. The paper designs and develops an on-chip testable embedded NOR Flash IP. The controller consists of two parts： control module and test module. The two modules are independently analyzed and designed. The simulation results show that the controller achieves normal operation and on-chip testable.

关 键 词：NOR FLASH IP核 存储器控制器 可测试性 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]