基于FinFET的IC产品的设计和测试  

作　　者：Carey Robertson Steve Pateras 

机构地区：[1]Mentor Graphics公司

出　　处：《中国集成电路》2016年第8期37-37,80,共2页China lntegrated Circuit

摘　　要：FinFET晶体管的兴起对IC物理设计和可测试性设计流程具有显著影响。引入FinFET意味着在IC设计流程中，CMOS晶体管必须建模为三维（3D）器件，

关 键 词：FINFET IC产品 设计流程 可测试性 CMOS晶体管 物理设计 器件 

分 类 号：TN386[电子电信—物理电子学]