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作 者:王鹏[1] 何家乐[2] 许娇[2] 吴明在[1] 叶振华[2] 丁瑞军[2] 何力[2]
机构地区:[1]安徽大学物理与材料科学学院,安徽合肥230601 [2]中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海200083
出 处:《红外与毫米波学报》2017年第3期289-294,共6页Journal of Infrared and Millimeter Waves
基 金:国家自然科学基金(11374013;51672001)~~
摘 要:研究了光伏型HgCdTe中波探测器的暗电流与烘烤时间的关系特性.编写了一种适用于n-on-p型的中波HgCdTe红外探测器的解析拟合程序.结合暗电流的主导机制有扩散机制、产生复合机制、带间直接隧穿机制和陷阱辅助隧穿机制.通过对样品不同烘烤时间的R-V曲线的解析拟合,得到了它们的暗电流成分,提取了6个特征参数.通过对比不同烘烤时间特征参数的变化,分析了烘烤对器件的影响.In this paper, we studied the relationship between dark current and baking time of mid-wave- length HgCdTe infrared photovoltaic detector. A simultaneous-mode nonlinear fitting program for n-on- p mid-wavelength HgCdTe infrared detector is reported. The curve-fitting model includes the diffusion, generation-recombination, band-to-band tunneling and trap-assisted tunneling current as dark current mechanisms. The dark current components and six characteristic parameters were obtained from the fit- ting of resistance-voltage(R-V) curves measured before and at different annealing time. The effects of annealing on the performance of the photodiodes were analyzed by comparing the characteristic parame- ters of devices at different annealing time.
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