Helios G4等离子聚焦离子束系统 赛默飞世尔科技有限公司  

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出  处:《传感器世界》2017年第7期51-51,共1页Sensor World

摘  要:新型HeliosG4等离子聚焦离子束(FIB)系统,是赛默飞最新一代的双束显微镜,可对各类半导体器件进行逆向剥层处理,并提供超高分辨率扫描电子显微镜(SEM)分析。

关 键 词:聚焦离子束系统 等离子 扫描电子显微镜 G4 半导体器件 超高分辨率 

分 类 号:TN16[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

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引证文献:

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