基于GA-PLS算法的小麦粉灰分含量快速检测  

作　　者：孙晓荣 

出　　处：《现代面粉工业》2018年第4期54-54,共1页Modern Flour Milling Industry

摘　　要：为得到噪声小、准确性强、自适应性良好的模型，对实验所得的近红外光谱进行预处理及优化波长是十分必要的。实验确定小麦粉中灰分含量为研究对象，提出将光谱预处理及遗传算法（GA）优化波长用于提高偏最小二乘法（PLS）定量建模的稳健性。

关 键 词：PLS算法 灰分含量 小麦粉 快速检测 GA 光谱预处理 偏最小二乘法 实验确定 

分 类 号：O242.23[理学—计算数学]