检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:李超
机构地区:[1]遵义医学院医学信息工程学院,贵州遵义563000
出 处:《山东工业技术》2018年第18期47-48,共2页Journal of Shandong Industrial Technology
摘 要:本文用RF磁控溅射的方法在Si片上沉积ZnO薄膜,探讨了衬底温度、氧氩比和退火处理和薄膜的结晶速率、结晶质量和电阻率的关系,为沉积符合气敏元件的ZnO敏感薄膜提供研究参考。
分 类 号:TB383.2[一般工业技术—材料科学与工程] TQ132.41[化学工程—无机化工]
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