检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:魏孜博 马文超 邱迎昕 WEI Zibo;MA Wenchao;QIU Yingxin(Yanshan Branch,Sinopec BRICI,Beijing 102500,P.R.China;Rubber and Plastic Synthesis National Engineering Research Center,Beijing 102500,P.R.China)
机构地区:[1]中国石油化工股份有限公司北京化工研究院燕山分院,北京102500 [2]橡塑新型材料合成国家工程研究中心,北京102500
出 处:《影像科学与光化学》2020年第3期430-435,共6页Imaging Science and Photochemistry
基 金:中石化总部项目(G3365-2019-Z1912)。
摘 要:综述了用于248 nm化学增幅型深紫外光刻胶的不同种类和结构的成膜树脂,以及所使用单体的研发进展,包括聚甲基丙烯酸甲酯及其衍生物、聚对羟基苯乙烯及其衍生物、N取代的马来酰亚胺衍生物,以及其他聚合物等,对不同结构成膜树脂的曝光条件、对光刻胶性能的影响进行了介绍。Different kinds of matrix resins and structures used in 248 nm chemically amplified deep UV photoresist were summarized,including poly(methyl methacrylate)and its derivatives,poly(p-hydroxystyrene)and its derivatives,N-substituted maleimide derivatives and other polymers,and the influences of the structure and exposure conditions of film-forming resins or monomers on photoresist properties were discussed.
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