北大排列高密度半导体碳纳米管 电子学性能超同尺寸硅基器件  

在线阅读下载全文

出  处:《中国粉体工业》2020年第3期46-46,共1页China Powder Industry

摘  要:集成电路的发展要求互补金属氧化物半导体(CMOS)晶体管在持续缩减尺寸的同时提升性能,降低功耗。随着主流CMOS集成电路缩减到亚10 nm技术节点,采用新结构或新材料对抗场效应晶体管中的短沟道效应、进一步提升器件能量利用效率变得愈加重要。在诸多新型半导体材料中,半导体碳纳米管具有超高的电子和空穴迁移率、原子尺度的厚度和稳定的结构,是构建高性能CMOS器件的理想沟道材料。

关 键 词:CMOS集成电路 场效应晶体管 新型半导体 短沟道效应 CMOS器件 原子尺度 半导体碳纳米管 技术节点 

分 类 号:TN3[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象