MOS器件动态参数测试方法研究  

作　　者：蔡建荣[1] 罗俊[1] 邱忠文[1] 赵茂霖 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆市400060

出　　处：《电子技术与软件工程》2020年第20期86-87,共2页ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING

摘　　要：本文介绍了MOS器件部分动态参数的测试方法,较为详细的阐述了MOS器件的动态参数的测试原理和测试过程,对解决MOS器件动态参数测试问题有较为实用的意义。

关 键 词：MOS器件 动态参数 开关时间 

分 类 号：TN386.1[电子电信—物理电子学]