基于ATE的ATDF测试数据的研究  

Study on ATDF Test Data on the Basis of STDF

作　　者：王玉龙 WANG Yulong(Sino IC Technology Co.,Ltd,Shanghai 201203,China)

机构地区：[1]上海华岭集成电路技术股份有限公司,上海201203

出　　处：《集成电路应用》2020年第11期26-27,共2页Application of IC

摘　　要：阐述在自动测试设备ATE中,将标准测试数据格式STDF转换成本文测试数据格式ATDF,直观认识测试数据的结构和内容,实现测试数据的收集、清洗、存储、分析与挖掘的产业化解决方案。In this paper, by converting STDF into ATDF, the structure and content of test data can be more intuitively understood in ATE, and the industrial solution of collection, cleaning, storage, analysis and mining of test data can be realized.

关 键 词：集成电路测试 自动测试设备 标准测试数据格式 文测试数据格式 计算机技术 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]