底部端子元器件的焊接工艺  被引量:1

Welding process of bottom terminal components

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作  者:韩潇 侯志鹏 齐乐 廉志宏 HAN Xiao;HOU Zhipeng;QI Le

机构地区:[1]天津航空机电有限公司,天津300308

出  处:《焊接技术》2022年第2期51-56,共6页Welding Technology

摘  要:在电子产品生产中,底部端子元器件在焊接过程中极易出现空洞现象,底部端子元器件空洞主要表现在TO封装的MOSFET上。为提高产品质量,减少MOSFET上空洞的形成至关重要。文中主要从PCB焊盘设计、钢网板的设计、焊接方法改进等方面来提高TO封装过程中的工艺水平,从而使空洞率有效降低,对提高产品质量具有重要意义。

关 键 词:TO封装 空洞 网板设计 MOSFET 

分 类 号:TG454[金属学及工艺—焊接]

 

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