一种简易的集成电路开短路测试方案及教学实践——以技师学院电子专业教学为例  

作　　者：林颜章 

机构地区：[1]厦门技师学院

出　　处：《中国培训》2021年第12期54-55,共2页China Training

摘　　要：集成电路芯片作为一种精密的电子部件,在生产制造、运输以及应用过程中由于各种因素导致引入缺陷,需要测试筛选出来。在生产测试中,测试时间、测试环境要求等因素会直接影响产品的成本,因此设计出能快速检测失效和易于操作的测试方法就显得十分关键。开短路测试也称OPEN/SHORT测试或O/S测试,由于具有快速检测出芯片内部引线连接情况和引脚ESD二极管失效的特点,在集成电路测试行业中,通常在产品期就会进行开短路测试。本文在介绍开短路测试原理以及现有测试实施方案的优缺点的基础上,提出一种简易集成电路开短路测试方案,具有操作简便和成本低等优势。

关 键 词：集成电路芯片 集成电路测试 测试环境 OPEN 技师学院 电子部件 实施方案 测试方法 

分 类 号：G712[文化科学—职业技术教育学] TN40-4[文化科学—教育学]