一种高效测试压缩技术的实例分析  

An example analysis of an efficient test compression technique

作　　者：孙大成[1,2] SUN Da-cheng(No.38 Research Institute,CETC;Anhui Siliepoch Technology Co.,Ltd)

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第38研究所 [2]安徽芯纪元科技有限公司

出　　处：《中国集成电路》2023年第5期27-30,共4页China lntegrated Circuit

摘　　要：本文首先介绍了向量测试压缩技术的原理,随后针对具体的设计实例,引入Design Compiler^([1])工具设计实现了两种不同的测试压缩方案,最后利用TetraMAX^([2])工具进行了覆盖率分析比较。实例结果表明:超压缩方案相对于自适应压缩方案,可以获得更高的测试覆盖率,且需要的测试向量规模更小。This paper firstly introduces the principle of vector compression technology,and then introduces Design Compiler to implement two different test compression schemes for a specific design example.Finally TetraMAX is used to analyze and compare the coverage.The results show that the DFTMAX Ultra compression scheme can obtain higher test coverage and require smaller test vector scale compared with the common compression scheme.

关 键 词：测试压缩 可测性设计 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]