存储器写禁止时间参数的测试方法  

Test Method for Write Disable Time of Memory

作　　者：孙燊 马闪闪 李晶[1,2] 赵发展[1,2] SUN Shen;MA Shanshan;LI Jing;ZHAO Fazhan(Institute of Microelectronics,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100029,China;Key Laboratory of Science and Technology on Silicon Devices,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100029,China)

机构地区：[1]中国科学院微电子研究所,北京100029 [2]中国科学院抗辐照器件技术重点实验室,北京100029

出　　处：《数字通信世界》2023年第5期77-80,共4页Digital Communication World

基　　金：重点研发计划纳米级芯片硬件综合安全评估关键技术研究项目课题四纳米级处理器芯片逆向分析(课题编号:2021YFB3100904)。

摘　　要：文章提出了一种利用自动化测试机台进行存储器写禁止时间参数的数值测试方法。通过原理与实例结合的方式,介绍了一种通过测试辅助参数并计算的方式测试写禁止时间具体数值的方法,并有效地对参数进行时间定位,解决了写禁止时间在仿真或实际应用中时间定位不明确的问题。This paper presents a test method,which can be used to test the write disable time of memory circuit on Automatic Test Equipment.Through the combination of principle and example,this paper introduces a method to test the specific value of write disable time by testing auxiliary parameters and calculating,and effectively locates the time of parameters,which solves the problem of unclear time location of write disable time in simulation or practical application.

关 键 词：存储器 写禁止时间 时间参数 自动化测试机台 

分 类 号：TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构]