超大规模集成电路适应性测试方法综述  

作　　者：张鲁萍 

机构地区：[1]安庆师范大学计算机与信息学院

出　　处：《数字技术与应用》2023年第9期134-136,共3页Digital Technology & Application

摘　　要：随着现代半导体工艺的迅猛发展,超大规模集成电路(VISI)的研发和制造技术日臻成熟,一个普通芯片,甚至由几亿个晶体管组成。随着集成电路设计和制造复杂度的提高,工艺技术的不断创新,电路测试难度大幅度提升,测试成本飙升,因此,自适应测试的发展至关重要,动态地调整测试流程,消除测试模式冗余,减少了测试时间,提升了测试效率,降低了测试成本。

关 键 词：超大规模集成电路 半导体工艺 测试成本 测试模式 电路测试 测试流程 自适应测试 方法综述 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]