检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:曲征辉 QU Zhenghui(Shenyang Xinyuan Microelectronics Equipment Co.,Ltd.,Liaoning 110001,China)
机构地区:[1]沈阳芯源微电子设备股份有限公司,辽宁110001
出 处:《集成电路应用》2024年第3期68-69,共2页Application of IC
摘 要:阐述光刻制程的核心工艺技术,分析各工艺步骤特点及异常情况,包括气相成底膜、涂布、前烘、曝光、曝光烘烤、显影、硬烘、检验工序,为未来进一步工艺研究与生产制造提供理论依据。This paper describes the core process technology of photolithography,analyzes the characteristics and abnormal situations of each process step,including gas-phase film formation,coating,pre drying,exposure baking,development,hard drying,and inspection processes.It provides a theoretical basis for further process research and production manufacturing in the future.
分 类 号:TN405[电子电信—微电子学与固体电子学]
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