检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:陈洋 Chen Yang(Sudavig(Yancheng)Photoelectric Technology Co.,Ltd.)
机构地区:[1]苏大维格(盐城)光电科技有限公司
出 处:《包装前沿》2025年第1期108-110,共3页PACKAGING FOREFRONT
摘 要:本文主要从生产工艺过程的全息制版、翻版、膜变形、纸张变形、纸张复合加工工序的变形控制及成品纸张断张规线控制等工序,对微纳结构光刻纸容易发生的质量问题进行了详细的原因分析,并提出了对应的解决措施。This article mainly analyzes in detail the quality problems that are prone to occur in micro nano structure lithography paper from the production process of holographic plate making,reprinting,film deformation,paper deformation,deformation control of paper composite processing,and control of finished paper breakage gauge line,and then proposes corresponding solutions.
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:3.21.104.216