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作 者:章继东[1] 陈京好[1] 邓元明[1] 安龙[1] 章昊[1] 杨富华[1] 李国华[1] 郑厚植[1]
机构地区:[1]中国科学院半导体研究所
出 处:《光谱学与光谱分析》2003年第2期223-225,共3页Spectroscopy and Spectral Analysis
基 金:国家重点基础研究专项经费资助;No.G001CB3095
摘 要:由于腔模与激子对压力的依赖关系不同,所以可以选择不同的压力使激子和光场处于不同的耦合状态,从而实现对耦合的调谐。利用这种办法,我们观测到了代表激子与光场强耦合作用的Rabi分裂。由于在我们现有样品结构中压力对激子本征行为的影响很小,与以前报道的温度、电场等调谐方式相比,这种调谐方法不仅可以有效地调谐半导体微腔内激子与腔模的耦合程度,而且能够保持激子的本征性质在整个调谐过程中基本不变。这有助于研究在强耦合过程中激子极化激元的本征性质。将实验结果与压力下激子与腔模耦合理论进行拟合,得出了正确的Rabi分裂值。We studied, for the first time, the strong coupling between exciton and cavity mode within semiconductor microcavity under hydrostatic pressure, and measured the Rabi splitting. The strong coupling between exciton and cavity mode, and so Rabi splitting appear clearly as the applied pressure reaches 0.37-0.41 GPa. The experiment result shows that hydrostatic pressure not only can tune the coupling between exciton and cavity mode effectively, but also can keep exciton property almost unchanged during the whole tuning procedure in contrast to other tuning method (temperature field et al). Our result agrees with the related theory very well. The Rabi splitting, extracted from fitting the measured mode-energy vs pressure curves with correspanding theoretical model, is equal to 6 meV.
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