微处理器测试系统设计  

Test System Design for Microprocessor

作　　者：关国梁[1] 李曦[1] 王恒才[1] 赵振西[1] 

机构地区：[1]中国科学技术大学计算机科学技术系,安徽合肥230026

出　　处：《小型微型计算机系统》2003年第8期1555-1558,共4页Journal of Chinese Computer Systems

基　　金：国家自然科学基金 ( 60 2 73 0 42 )资助 ;安徽省自然科学基金 ( 0 3 0 42 10 1)资助

摘　　要：为了保证微处理器芯片设计的正确性 ,需要进行大量的仿真和测试 ,因此需要一个微处理器测试系统 ,以实现微处理芯片功能的测试和调试 .本文分析了微处理器测试系统的功能。An test system is essential for the emulation and simulation of a Microprocessor design. This paper presents a prototype of the test system. We also introduce the functions, components and some key points in the design.

关 键 词：微处理器功能测试 测试系统 软硬件协同设计 

分 类 号：TP302[自动化与计算机技术—计算机系统结构]