一种集成电路静态老化测试的输入矢量选取方法  

A Test Pattern Selection Method for Static Burn-In of ICs

作　　者：崔小乐[1] 李红[1] 史新明[2] 程作霖[1] 

机构地区：[1]北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室,深圳广东518055 [2]中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所,陕西西安710065

出　　处：《微电子学与计算机》2014年第6期72-76,共5页Microelectronics & Computer

基　　金：国家自然科学基金资助项目(61006032);广东省自然科学基金资助项目(S2011010001234);深圳市科技计划资助项目(JCYC20120614145742639;ZYC201105170354A)

摘　　要：在集成电路静态老化测试中,对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量,使被测电路产生较大的漏电功耗,有利于其早期失效的发生,获得更好地老化效果.提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法.在被测电路中设置合适的固定故障,通过ATPG方法获取较小的备选测试矢量集合.基于门电路的故障相关输入状态,设计了一种度量指标,可用于辅助在备选测试矢量集合中搜索目标矢量.该度量指标与电路漏电功耗总体上为正相关关系,可有效降低误选测试矢量的风险.To accelerate the early mortality of integrated circuits during static burn-in process ,a test pattern which can excite the maximum leakage power of CUTs is preferred .This paper proposes a method to select the target test pattern .The reduced candidate test patterns are generated with ATPG method by setting proper stuck-at faults in CUTs .An indicator is designed based on the fault related input states of gates ,and it is used for target searching in the candidate test patterns .The method has less risk of errors because the indicator hold a good positive correlation with the leakage power of CUTs .

关 键 词：静态老化 测试矢量 漏电功耗 故障模型 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]