李红

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供职机构:北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室更多>>
发文主题:测试矢量集成电路漏电功耗矢量更多>>
发文领域:电子电信更多>>
发文期刊:《微电子学与计算机》更多>>
所获基金:国家自然科学基金广东省自然科学基金深圳市科技计划项目更多>>
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一种集成电路静态老化测试的输入矢量选取方法
《微电子学与计算机》2014年第6期72-76,共5页崔小乐 李红 史新明 程作霖 
国家自然科学基金资助项目(61006032);广东省自然科学基金资助项目(S2011010001234);深圳市科技计划资助项目(JCYC20120614145742639;ZYC201105170354A)
在集成电路静态老化测试中,对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量,使被测电路产生较大的漏电功耗,有利于其早期失效的发生,获得更好地老化效果.提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法.在被测电路中设置合适的固定故障,通过ATPG...
关键词:静态老化 测试矢量 漏电功耗 故障模型 
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