外推法测定半导体材料的折射率  

Determining refractive index of semiconductor material by extrapolation method

作　　者：夏辰安[1] 宣昆[1] 陆申龙[1] 马秀芳[1] 

机构地区：[1]复旦大学物理系,上海200433

出　　处：《物理实验》2004年第1期46-48,共3页Physics Experimentation

摘　　要：利用半导体激光器 ,根据菲涅耳公式及折射定律 。Based on Fresnel formula and refraction law, the real part of complex refractive of some semiconductor material is measured using the semiconductor laser.

关 键 词：半导体材料 外推法 复折射率 菲涅耳公式 消光系数 

分 类 号：O472.3[理学—半导体物理]