利用P-MBE在Si(111)衬底上生长氧化锌薄膜及其光学性质的研究  

STUDY ON GROWTH AND OPTICAL PROPERTIES OF ZnO THIN FILMS ON Si(111) SUBSTRATE BY PLASMA ASSISTED MOLECULAR BEAM EPITAXY(P-MBE)

作　　者：颜建锋[1] 梁红伟[2] 吕有明[2] 刘益春[1] 李炳辉[1] 申德振[2] 张吉英[2] 范希武[2] 

机构地区：[1]东北师范大学物理系理论物理研究所,吉林长春130024 [2]中国科学院长春光学精密机械与物理研究所激发态物理重点实验室,吉林长春130033

出　　处：《红外与毫米波学报》2004年第2期103-106,共4页Journal of Infrared and Millimeter Waves

基　　金：国家"8 63"高技术 .新材料领域 (2 0 0 1AA3 1112 );国家自然科学重点基金(60 3 3 60 2 0 );国家自然科学基金资助项目(60 1760 0 3;60 2 780 31;60 3 760 0 9);中国科学院二期创新资助项目

摘　　要：在Si( 111)衬底上利用等离子体辅助分子束外延 (P MBE)生长氧化锌 (ZnO)薄膜 ,研究了在不同衬底生长温度下 ( 35 0～ 75 0℃ )制备的ZnO薄膜的结构和光学性质 .随着衬底温度的升高 ,样品的X射线及光致发光的半高宽度都是先变小后变大 ,衬底温度为 5 5 0℃样品的结构及光学性质都比较好 ,这表明 5 5 0℃为在Si( 111)衬底上生长ZnO薄膜的最佳衬底温度 ;同时 ,我们还通过 5 5 0℃样品的变温光致发光谱 ( 81～ 30 0K)研究了ZnO薄膜室温紫外发光峰的来源 。Plasma assisted molecular beam epitaxy was employed to prepare ZnO thin films on Si (111) substrate. In order to look for the optimal substrate temperature for growth of ZnO thin films, the dependence of the quality of ZnO thin films on substrate temperature ranging from 350degreesC to 750degreesC was studied by X-ray diffraction (XRD) and photoluminescence (PL) spectra analysis. The full width at half maximum (FWHM) of XRD and PL spectra become narrower and then wider, a preferred oriented ZnO thin film on Si substrate was obtained at 550 degreesC. The PL spectra show a strong ultraviolet(UV) band emission with a weak deep-level emission. The origin of the UV band is from free excition recombination, testified by the temperature dependent PL spectra in the rang of 81 K similar to 300K.

关 键 词：氧化锌薄膜 等离子体辅助分子束外延法 光致发光 半导体材料 X射线衍射分析 

分 类 号：O484.1[理学—固体物理] O484.41[理学—物理]