Cost-Effective Test Solutions for Smart Card and Other Integrated Flash Applications  

作　　者：Thomas M. Trexler 

机构地区：[1]Credence Systems Corporation

出　　处：《半导体技术》2004年第5期62-63,67,共3页Semiconductor Technology

关 键 词：成本效率 测试 智能卡 集成闪存 EEPROM DRAM 

分 类 号：TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构]