Fuzzy双拓扑空间的拟伪度量化  

Quasi Pseudo Metrization of Fuzzy Bitopological Spaces

作　　者：吴从炘[1] 吴健荣[2] 

机构地区：[1]哈尔滨工业大学数学系 [2]苏州城建环保学院基础部

出　　处：《模糊系统与数学》1992年第1期15-20,共6页Fuzzy Systems and Mathematics

基　　金：黑龙汀省自然科学基金

摘　　要：本文出了Fuzzy双拓扑空间可拟伪度量化的一个函数特征。在此基础上,引入局部有限配基,局部有限基等概念,得到了一系列Fuzzy双拓扑空间的可拟伪度量化定理。In this paper, we give a functional characteristic of a fuzzy bitopology which is quasi pseudo-metrizable. On this basis, we introduce the concepts of a locally finite pairwise basis, a locally finite basis, and so on, get a series of fuzzy quasi pseudo-metrization theorems.

关 键 词：模糊双拓扑空间 拟伪度量化 完全分配格 

分 类 号：O159[理学—数学] O189.1[理学—基础数学]