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X-Debugger:基于FPGA的扫描调试器设计及实现
《高技术通讯》2024年第8期824-831,共8页李小波 唐志敏 
国家自然科学基金(61732018,61872335,61802367)资助项目。
针对芯片硅后调试面临内部信号可观测性差、可控制性弱、内部状态不易恢复重建等问题,本文设计和实现了一款基于现场可编程门阵列(FPGA)的快速扫描调试器XDebugger。该调试器复用传统可测试设计(DFT)扫描链路逻辑,在芯片的设计阶段插入...
关键词：硅后调试 现场可编程门阵列(FPGA) 扫描链 寄存器回读 状态重建 
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