PBTI

作品数：16被引量：3H指数：1
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Hybrid Aging Delay Model Considering the PBTI and TDDB
《Journal of Electronic Science and Technology》2015年第3期276-281,共6页Yong Miao Mao-Xiang Yi Gui-Mao Zhang Da-Wen Xu 
supported by the National Natural Science Foundation of China under Grant No.61371025 and No.61274036
With a 45 nm process technique, the shrinking silicon feature size brings in a high-k/metal gate which significantly exacerbates the positive bias temperature instability （PBTI） and time-dependent dielectric breakdo...
关键词：Circuit aging positive biastemperature instability time-dependent dielectricbreakdown. 
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