数字电路测试

作品数：29被引量：38H指数：3
导出分析报告
相关领域：电子电信更多>>
相关作者：欧阳丹彤张立明曹子剑陈希吕永乐更多>>
相关机构：中国科学院吉林大学湖南大学中国电子科技集团第十四研究所更多>>
相关期刊：《科技资讯》《微处理机》《计算机与数字工程》《微电子技术》更多>>
相关基金：国家自然科学基金中国航空科学基金更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

结果分析中...
选择条件：
  • 期刊=电子测量与仪器学报x
共 条 记 录，以下是1-2
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
安捷伦科技2011年数字电路测试峰会掀起新技术讨论热潮
《电子测量与仪器学报》2011年第8期745-745,共1页
安捷伦科技于2011年7月19日在深圳举办年度数字电路测试峰会,与会的300位工程师掀起了一轮新技术讨论热潮,以两个领域话题最为引人注目,一是应用在移动便携式设备上的最新技术,包括MIPI D-PHY,MIPI M-PHY,MHL,LPDDR,SDUHS-I;一是高速串...
关键词：安捷伦科技 最新技术 电路测试 高速串行接口 便携式设备 技术创新 测试技术 连接技术 
数字电路BST的测试矢量预装和响应提取
《电子测量与仪器学报》2004年第z2期735-738,共4页陈希 陈光 谢永乐 
在IEEE1149.1标准中,边缘扫描描述语言(BSDL)描述了边缘扫描寄存器的长度和结构、指令的二进制代码及器件标志代码等.本文利用PCI1149.1控制器,根据所给定的任意一个边缘扫描器件的BSDL文件,构建了边缘扫描测试软件平台,重点描述了互连...
关键词：数字电路测试 边缘扫描寄存器 边缘扫描描述语言 指令 测试 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部