数字电路系统

作品数：32被引量：32H指数：3
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含存储器数字电路系统的自动测试生成
《计算机工程》2007年第23期252-254,260,共4页成本茂 杨士元 王红 鞠艳秋 
国家"973"计划基金资助项目(2005CB321604)
已有的数字电路自动测试生成(ATPG)软件没有存储器的结构模型,不支持对存储器电路的自动测试生成。该文分析了2类存储器的功能特征,提出了面向测试的ROM和RAM结构模型的建立方法,其中,ROM根据所储存的数据等效成组合电路模型,RAM利用新...
关键词：存储器 结构模型 自动测试生成 故障仿真 
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