晶体管参数

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半导体器件
《电子科技文摘》1999年第4期30-31,共2页
Y98-61303-145 9904483利用晶体管参数波动校验分析器件模型的新方法=New method for verification of analytical device modelsusing transistor parameter fluctuations[会,英]/Kuhn,C.& Marksteiner,S.//1997 IEEE International El...
关键词：半导体器件 器件模型 晶体管参数 校验分析 新方法 功率器件 可靠性 波动 功率模块 无源元件 
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