半导体特性分析系统

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吉时利仪器公司推出C-V测量性能更佳的4200-CVU
《电信科学》2007年第12期94-94,共1页
吉时利仪器公司宣布推出4200-CVU，为4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200S-CS的任意可用仪器插槽中，能在10kHz～10MHz频率范围内快速、方便地测量腰和nF级电容，具有直观的点击式配置界...
关键词：吉时利仪器公司 测量性能 半导体特性分析系统 4200-SCS 测量效率 C-V测量 C-V测量 测量功能 
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