MULTI-CHIP

作品数：8被引量：17H指数：2
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Study on MCM Interconnect Test Generation Based on Ant Algorithm with Mutation Operator
《上海交通大学学报》2007年第S2期150-153,共4页陈雷 
A novel multi-chip module(MCM) interconnect test generation scheme based on ant algorithm(AA) with mutation operator was presented.By combing the characteristics of MCM interconnect test generation,the pheromone updat...
关键词：MULTI-CHIP module(MCM) INTERCONNECT TEST ANT algorithm(AA) TEST generation MUTATION 
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